Analisis Pengaruh EOS Dan ESD Terhadap Kerusakan Komponen Elektronik Semikonduktor Untuk Meningkatkan Kualitas Produksi PT.Samsung Electronics Indonesia (SEIN) | Perpustakaan Fakultas Teknik UM Indonesia

Pencarian berdasarkan :

SEMUA Pengarang Subjek ISBN/ISSN Pencarian Spesifik

Pencarian terakhir:

Teknik Elektro S-1

Analisis Pengaruh EOS Dan ESD Terhadap Kerusakan Komponen Elektronik Semikonduktor Untuk Meningkatkan Kualitas Produksi PT.Samsung Electronics Indonesia (SEIN)

Witanto, Yudha - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Perpustakaan Teknik (Rak 03) R 007 WIT a

007EL2015

Tersedia

Informasi Detail

Judul Seri: -
No. Panggil: R 007 WIT a
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: -
Bahasa: Indonesia
ISBN/ISSN: 2015
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: Sri Marini, S.T., M.
Subjek: Mikrokontroller
Info Detail Spesifik: 41187003120040
Pernyataan Tanggungjawab: M. Ilyas Sikki, S.T, M.Kom

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar